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Florent Houdellier lauréat du Prix Ernst Ruska 2019

Le Prix Ernst Ruska 2019 de la Société allemande de Microscopie a été attribué au Dr. Florent Houdellier, Ingénieur de Recherche au CEMES-CNRS à Toulouse.

Ce prix lui est remis pour sa contribution au développement d’un nouveau microscope TEM à source pulsée ultrabrillante basée sur une technologie FEG froid. Grâce à la brillance unique au monde de cette source, ce microscope a permis d’acquérir les premiers hologrammes avec des impulsions électroniques femtosecondes qui a motivé l’attribution de ce prix.

Ses travaux ont été menés en étroite collaboration avec le Dr. Arnaud Arbouet (CEMES, Toulouse) ainsi que les Dr. Giuseppe Mario Caruso (CEMES, Toulouse), Dr. Sébastien Weber (CEMES, Toulouse) et Dr. Mathieu Kociak (LPS, Orsay).1

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Florent Houdellier, Prix Ernst Ruska 2019, lors du changement de la source à émission de champ 200kV
© CEMES / CNRS

Le prix Ernst Ruska sera remis à Florent Houdellier lors de la cérémonie d’ouverture de la conférence sur la microscopie MC2019 à Berlin le 2 septembre 2019.

Le prix Ernst-Ruska porte le nom du Prof. Dr. Ernst August Friedrich Ruska, lauréat du prix Nobel et inventeur du microscope électronique. Ce prix international est décerné tous les deux ans par la Société allemande de microscopie électronique (Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie, DGE) pour des réalisations exceptionnelles dans le domaine de la microscopie électronique.

 

Florent Houdellier, Giuseppe Mario Caruso, Sebastien Weber, Mathieu Kociak et Arnaud Arbouet sont par ailleurs lauréats de l’« European Microscopy Society (EMS) Outstanding Paper award, Instrument Technique and Development » pour leur article publié sur ces travaux dans Ultramicroscopy1.

Le prix « European Microscopy Society (EMS) Outstanding Paper award, Instrument Technique and Development » sera remis lors de la conférence sur la microscopie MCM2019 à Belgrade le 15-20 septembre 2019.

 

Référence

  1. F. Houdellier, G.M. Caruso, S. Weber, M. Kociak, A. Arbouet, “Development of a high brightness ultrafast Transmission Electron Microscope based on a laser-driven cold field emission source” Ultramicroscopy 186 (2018) 128–138.
    DOI : 10.1016/j.ultramic.2017.12.015

 

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