Centre d’Élaboration de Matériaux et d’Etudes Structurales (UPR 8011)


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Lancement de la plate-forme nano-X

par Evelyne Prevots - publié le

La plateforme nano-X est un outil de caractérisation de nanomatériaux par diffraction et diffusion des rayons X à destination d’une large communauté scientifique rassemblant physiciens, chimistes et spécialistes de sciences des matériaux, mais aussi des industriels.
Ce projet est porté par 4 laboratoires toulousains (CEMES, CIRIMAT, LCC et LPCNO) qui ont l’ambition de développer et mettre à disposition cette plateforme de caractérisation proposant des techniques de pointe ainsi que le personnel et les compétences requises à l’exploitation des résultats.

Les équipements de la plate-forme sont répartis sur les différents sites partenaires de la façon suivante :

  • Laboratoire de chimie de coordination
    • Diffractomètre Nonius quatre cercles à détecteur bidimensionnel CCD BRUKER APEX II, tube rayons X scellé Mo. Equipement basse température azote liquide : Cryostream (Oxford Cryosystem) permettant d’atteindre les 100 K.

 

  • Centre Interuniversitaire de Recherche et Ingénierie des Matériaux
    • Diffractomètre Bruker D8 Advance
      Source : anticathode Cu, fentes de divergence programmables, détecteur linéaire rapide Lynxeye. Passeur d’échantillon 9 emplacements. Possibilité de travailler sur un DRX avec chambre en température (jusqu’à 1200°C) et détecteur Vantec.

 

  • Laboratoire de physique chimie des nano-objets
    • Diffractomètre Panalytical Empyrean
      Source : anticathode Co, fentes de divergence programmable, possibilités de mesure en géométrie Bragg-Brentano ou Debye-Sherrer, détecteur ponctuel ou détecteur linéaire rapide Xcelerator, possibilités de mesures en température (jusqu’à 1200°C), possibilité de mesurer des échantillons sensibles à l’air, porte échantillon rotatif
      Pour l’application couches minces, optique avant hybride (miroir + monchromateur channel-cut Ge 220), berceau chi-phi-z
    • Diffractomètre Panalytical Empyrean
      Source : anticathode Co, optique Bragg Brentano HD, détecteur 1D de type PiXcel, possiblité de réaliser des mesures en température sous atmosphère réductrice (H2, CO)

 

  • Centre d’élaboration de matériaux et d’études structurales
    • Diffractomètre Bruker D8 Advance
      Source : anticathode Cu, optique avant monocap permettant de définir un faisceau ponctuel d’environ 100µm, platine XYZ de positionnement d’échantillon, détecteur linéaire
    • Diffractomètre Bruker D8 Discover dédié à la mesure de déformations et textures
      Source : microsource Co, jeu de collimateurs permettant de définir des tailles de faisceau allant de 50 à 500µm, berceau Chi-phi-XYZ pour le positionnement d’échantillon, détecteur 2D
    • Dispositif de diffusion aux grands angles
      Source : anticathode Mo, géométrie Debye Sherrer, détecteur SDD à haute résolution énergétique permettant une analyse combinée en fluorescence X
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D8 Discover pour la mesure de contraintes et textures
© CEMES-CNRS

Le projet nano-X est financé par plusieurs partenaires :

 

Contact

nicolas.ratel-ramond chez cemes.fr