Centre d’Élaboration de Matériaux et d’Etudes Structurales (UPR 8011)


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Nanoscope

L’activité « Nanoscope » regroupe un ensemble de techniques d’imagerie de surface en champ proche. Sur la base d’un microscope commercial, le service propose l’accès à des mesures de :

  • Topographie (AFM mode contact ou Tapping, STM) à l’air ou milieu liquide
  • Imagerie de Forces de friction latérale (LFM)
  • Imagerie de Forces magnétiques (MFM)
  • Imagerie de Forces électriques (EFM)
  • Imagerie de Potentiel de surface (KFM)
  • Courbes de force

Les microscopies de champ proche, ou à sonde locale, permettent des observations à 3 dimensions, sur des échelles de 1 nm à 100 µm, sur tous types d’échantillons : surfaces (métalliques, semi-conductrices ou isolantes), nano-objets (nanoparticules, nano-structures), molécules, échantillons biologiques…

Modes de réalisation des mesures :

- Prestations par le responsable, en présence ou non du demandeur

- Formation du demandeur en vue d’être autonome sur le microscope (à envisager pour de grandes campagnes de mesures)

Contraintes physiques sur les échantillons :

- La configuration géométrique du matériel impose de calibrer le format des échantillons : la zone utile à observer doit se situer au centre de l’échantillon, dans une zone d’environ 5x5 mm², les dimensions totales de l’échantillon ne devant pas dépasser 1 cm (l) x 1 cm (L) x 0.8 cm (ép.)

- L’échantillon peut par contre être de petite taille ou de forme biscornue

Modalités d’accès :

- Prendre contact avec le responsable de l’activité (coordonnées ci-dessous)

- Définir le type d’observation souhaitée

- Evaluer la quantité de mesures à réaliser

- Choisir un mode de réalisation des mesures

Conditions d’accès :

- Le service est ouvert en priorité aux membres du laboratoire

- Le service est également ouvert aux extérieurs, institutionnels ou entreprises

Tarification :

- A venir, selon catégorie du demandeur, et selon le type de demande

Responsable : G. Seine, 05 62 25 79 64