Centre d’Élaboration de Matériaux et d’Etudes Structurales (UPR 8011)


Accueil > Stages et thèses

Post-Doc

Sujet de post-doc "Microscopie électronique de nanostructures ferroélectriques"

 

Sujet de post-doc "Microscopie électronique in-situ et operando de composants électroniques"

 

Note : Les 2 post-docs échangeront leur travail sur les oxydes ferroélectriques nanostructurés.

***********************************************************************

 

"Microscopie électronique de nanostructures ferroélectriques"

  • Lieu : CEMES/CNRS
  • Date début du contrat : 01/2021
  • Durée du contrat : 12 mois, renouvelable jusqu’à 24 mois
  • Type de contrat : ANR PRCI
  • Mots-clés : STEM HAADF/ABF/EELS, nanostructures, oxydes, ferroélectriques
  • Contacts : Sylvie Schamm-ChardonMartin Hÿtch

 

Le/La candidat(e) retenu(e) rejoindra l’équipe du CEMES-CNRS à Toulouse qui travaille sur la microscopie électronique en transmission d’oxydes fonctionnels (groupe MEM group, MEM, en collaboration avec le groupe I3EM, I3EM) et le projet ANR franco-allemand FEAT. L’objectif est de développer la compréhension fine de la physique des oxydes ferroélectriques lorsqu’ils sont intégrés à l’échelle nanométrique sur un substrat semiconducteur en déterminant leurs caractéristiques à l’échelle atomique avec les méthodes de la microscopie électronique en transmission (HAADF/ABF/EELS).

Détails

https://bit.ly/3i8Ro7s

********************************************************************************

"Microscopie électronique in-situ et operando de composants électroniques"

  • Lieu : CEMES/CNRS
  • Date début du contrat : 01/2021
  • Durée du contrat : 12 mois, renouvelable jusqu’à 36 mois
  • Type de contrat : ESTEEM3
  • Mots-clés : FIB, in situ, interférométrie, TEM avancé, ferroélectriques
  • Contacts : Martin Hÿtch

 

Le/La candidat(e) retenu(e) travaillera sur le développement d’expériences d’holographie électronique in situ et operando au sein du groupe I3EM du CEMES-CNRS à Toulouse. L’objectif est de mesurer les champs électriques, magnétiques et de contrainte à l’échelle nanométrique en microscopie électronique sur des composants microélectroniques en fonctionnement. Une des clefs de ces expériences est la préparation d’échantillon par faisceau ionique focalisé (FIB) et leur contactage électrique à des supports spécialement conçus.

Détails

https://bit.ly/2O9wZS9