Centre d’Élaboration de Matériaux et d’Etudes Structurales (UPR 8011)


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Préparation d’échantillons

  • Présentation :

 

La préparation d’échantillons est l’activité indispensable qui précède l’observation en microscopie électronique. Les méthodes conventionnelles consistent à effectuer du polissage de surface pour des observations en microscopie électronique à balayage (MEB), ou à amincir les échantillons jusqu’à quelques dizaines de nanomètres d’épaisseur pour des observations en microscopie électronique en transmission (MET). Cependant, la préparation d’un échantillon peut devenir plus exotique suivant la problématique en jeu.

Le service met à disposition du laboratoire de nombreux outils, et différentes techniques de préparations, qui sont enseignées aux étudiants et aux personnes souhaitant être formées. 

Qu’elle soit conventionnelle, ou plus moderne, la préparation d’échantillon nécessite de la part de l’opérateur une grande précision, du doigté et de la patience !

 

  • Équipements :

 

 

Outils de découpe :
Machine à électroérosion à fil ONA AF25 (équipement à 50% dans le service mécanique) Scies à fils diamantés ESCIL Well Tronçonneuse BUEHLER IsoMet 4000

 

Polissage mécanique :
Polisseuses ESCIL 300GTL, 200GTL Polisseuse semi-automatique ALLIED Multiprep Polisseuse BUEHLER Phoenix 4000
Polisseuse vibrante BUEHLER VibroMet2 GATAN Grinder SOUTH BAY TECHNOLOGY Tripod Polisher Model 590
GATAN Dimpler Grinder Model 656
Microscopes optiques
Focused Ion Beam (FIB) 
NIKON Eclipse LV100ND

NIKON Eclipse MA200

FEI Helios Nanolab 600i

- colonne SEM

- colonne FIB

- micromanipulateur Omniprobe

- 5 GIS (gaz injection system) : Pt, W, C, Co et O2

- détecteurs EBSD, STEM, CBS

Polissage électrolytique
Enrobage à chaud  Amincisseur ionique
     
 STRUERS TenuPol-5  BUEHLER SimpliMet XPS1

 GATAN PIPS Model 691

 

  • Personnel

    Dominique Lamirault

    (AJTR ITRF)

    Catherine Crestou

    (TCN)

    Robin Cours

    (AI)