Centre d’Élaboration de Matériaux et d’Etudes Structurales (UPR 8011)


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Thèse Roberta Ruffilli


Modes de fatigue des métallisations à base d’aluminium dans les composants MOSFET de puissance

Soutenance vendredi 8 décembre à 10H00
salle de conférences du CEMES

Cette thèse, réalisée dans le cadre d’une collaboration entre le CEMES, NXP Semiconductors et le laboratoire SATIE-ENS de Cachan, a comme objectif la compréhension des mécanismes de défaillance des dispositifs MOSFET pour des applications dans l’industrie automobile.

 

Composition du jury

  • Mauro CIAPPA, ETH, Zurich (Rapporteur)
  • Josef LUTZ, TU, Cheminitz (Rapporteur)
  • Marie-Laure LOCATELLI, Laboratoire LAPLACE, Toulouse (Examinatrice)
  • Michael NELHIEBEL, K.A.I. - Infineon, Villach (Examinateur)
  • Stéphane LEFEBVRE, SATIE-ENS, Cachan (Examinateur)
  • Philippe DUPUY, NXP Semiconductors, Toulouse (Invité)
  • Marc LEGROS, CEMES-CNRS, Toulouse (Directeur de Thèse)
  • Mounira BERKANI, , SATIE-ENS, Cachan (Directrice de Thèse)