Service de Microscopie Electronique

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Nos missions

Le service TEM du CEMES offre une expertise dans la caractérisation structurale, chimique, de champ... des matéraux et nanomatériaux. Il compte dans son parc sept TEMs,  six ouverts aux expériences et un dédié aux développements instrumentaux.Une partie de l'activité du service est en effet réservé à la recherche de nouveaux outils tels que des sources cohérentes d'électrons ou bien de nouveaux porte-objets.

Les Microscopes du CEMES

Microscopes corrigés : HF3300S - SACTEM

Microscopes conventionnels :
JEOL 2010 - (S)TEM-FEG - CM30 - CM20 

Microscope de développement :
HF2000

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Nos atouts



Les techniques accessibles :

SACTEM :
CTEM - HREM - Holograghie - Lorentz - CBED & LACBED - EFTEM - CHEF - STEM - EELS - EMCD - LACDIF

JEOL 2010 :
CTEM - In Situ - Lorentz

(S)TEM-FEG :
CTEM - Précession - Cartographie d'orientation - Holograghie- STEM - EELS - EDX

CM30 :
CTEM - HREM - CBED & LACBED

CM20 :
CTEM  - CBED & LACBED



Les types d'informations :

Structurale  -  Chimique & Optique  -  Electrique  -  Magnétique