Service de Microscopie Electronique
Nos missions
Le service TEM du CEMES offre une expertise dans la caractérisation structurale, chimique, de champ... des matéraux et nanomatériaux. Il compte dans son parc sept TEMs, six ouverts aux expériences et un dédié aux développements instrumentaux.Une partie de l'activité du service est en effet réservé à la recherche de nouveaux outils tels que des sources cohérentes d'électrons ou bien de nouveaux porte-objets.
Nos atouts
Les techniques accessibles :SACTEM :
CTEM - HREM - Holograghie - Lorentz - CBED & LACBED - EFTEM - CHEF - STEM - EELS - EMCD - LACDIF
JEOL 2010 :
CTEM - In Situ - Lorentz
(S)TEM-FEG :
CTEM - Précession - Cartographie d'orientation - Holograghie- STEM - EELS - EDX
CM30 :
CTEM - HREM - CBED & LACBED
CM20 :
CTEM - CBED & LACBED
Les Microscopes du CEMES
Microscopes corrigés : HF3300S - SACTEMMicroscopes conventionnels :
JEOL 2010 - (S)TEM-FEG - CM30 - CM20
Microscope de développement :
HF2000
Les types d'informations :
Structurale - Chimique & Optique - Electrique - Magnétique
Agendas : ICI
