Bien entendu, les techniques d'imagerie conventionnelles, ou CTEM, font parties des méthodes obligatoires de tout microscopistes électronicien. Je parles des modes d'imagerie associées au contraste de diffraction telles que le champ clair, sombre et faisceau faible. 

Ce type d'expériences peut être réalisé au CEMES sur n'importe quel microscopes. Les informations obtenues peuvent difficillement être énumérées puisque cela dépendra de l'objet étudié. Mais ça peut aller des simples mesures de taille (couches, grains, nanoparticules,...) ou comptage de particules jusqu'à l'analyse détaillée des défauts (dislocations, fautes d'empilements, ...) et de leurs interactions entre eux. Un des énormes avantages provient de la possibilité de réaliser ces études in situ dans le microscope en chauffant, tirant, ... le cristal étudié. Ceci est d'ailleurs une des spécialités du laboratoire qui a été précurseur dans ce type d'études.

La figure ci-dessous présente une image champ clair de la microsctructure d'un alliage à mémoire de forme TiNiCu. On remarquera en particulier la présence de grains contenant des lamelles martensitiques.