Un microscope à sonde locale peut se comporter
comme une source de lumière, mais il peut également
sonder les propriétés de champ proche optique d'une
surface. Dans un microscope à champ proche optique, l'onde
électromagnétique évanescente présente
au voisinage de la surface d'un échantillon excité
optiquement est détectée par une fibre optique
amincie positionnée à quelques nanomètres
de la surface. La topographie de l'objet ainsi que ses propriétés
diélectriques locales modulant l'intensité lumineuse
collectée, il est possible de caractériser la surface
avec une résolution inférieure à la longueur
d'onde lumineuse. Cette technique permet ainsi d’accéder
à une véritable cartographie du champ électromagnétique
au voisinage de la surface de l’échantillon à
l'échelle du nanomètre. Un des nombreux intérêts
de ce dispositif réside dans la caractérisation spectroscopique
d'objets de dimensions nanométriques déposés
sur des surfaces.
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Mais l'illumination de films minces
métalliques ou de surfaces nanostructurées peut aussi
conduire à l'excitation de modes de plasmons de surface.
Les propriétés résonnantes de ces oscillations
électroniques collectives peuvent engendrer une exaltation
du champ et plus généralement une nanostructuration
du champ dans la barrière tunnel. Ceci ouvre un nouveau domaine
de techniques de champ proche appelé plasmonique.
Par ailleurs, la décroissance radiative de ces modes de surface
est une méthode efficace pour étudier les processus
dissipatifs tel que l'effet tunnel inélastique.
Nos études s'orientent également dans cette voie très
prometteuse et nous avons récemment développé
un microscope à champ proche optique de type P.S.T.M.
asservi par effet tunnel destiné à de multiples
applications (caractérisation de guides d'ondes, interférométrie
en champ proche, spectroscopie d'objets isolés, ...).
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