Acquis dans le cadre de la plate-forme nano-X, cet appareil présente une configuration unique en France. Equipé d’une microsource à forte brillance à anticathode Co et d’un détecteur bi-dimensionnel, cet appareil permettra la mesure de contraintes et textures avec une taille de faisceau comprise entre 1mm et 50µm, avec des durées d’acquisition optimisées.
Cet appareil bénéficie d’un financement du Labex NEXT, de l’Université Paul Sabatier, ainsi que de l’Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées.
Contact
nicolas.ratel-ramond chez cemes.fr