Fiabilité prédictive des dispositifs de puissance
Correspondant CEMES
M. Legros
Type d’aide
Thèse CIFRE, Projet région impliquant aussi le LAAS
Résumé
Ce thème de recherche consiste à étudier la fiabilité des composants électroniques, en utilisant notamment la microscopie électronique, afin de parvenir à une prédiction des défaillances.