Accueil > Recherche > I3EM : Interférométrie, In situ et Instrumentation pour la Microscopie Electronique > Matériaux et dispositifs
Ces activités de recherche concernent la cartographie de champs (électromagnétiques, de contraintes, composition chimiques) pour corrélation des propriétés physiques macroscopiques à des études locales.
Ces développements expérimentaux sont utilisés aussi bien pour des couches minces, des nanofils ou des nanoparticules. Les brisures de symétrie et/ou les distances caractéristiques (libre parcours moyen des électrons, des spins...) comparables à celle des systèmes induisent des propriétés originales dans ces nanoobjets. Quelques exemples développés par la suite concernent
les films minces de semiconducteur magnétique MnAs caractérisés par EMCD (electron magnetic chiral dichroism) en collaboration avec le groupe MEM
les nanocubes de fer et fils de CoCu étudiés par holographie électronique
les couches de matériaux piézoélectriques analysées par holodark
Les études sur matériaux massifs sont aussi possibles, notamment pour en collaboration avec le groupe PPM, sur les alliages aéronautiques.
L’EMCD, Energy-Loss Magnetic Chiral Dichroism, est une technique récente, mise en œuvre dans le microscope électronique à transmission (TEM), qui utilise la spectroscopie de pertes d’énergie (...)
L’EMCD [1] peut être comparé au XMCD (X-ray Magnetic Circular Dichroism), technique proposée en 1988 pour mesurer les moments magnétiques grâce à un rayonnement synchrotron. Lors de l’interaction avec (...)
