"Study of the impact on crystal quality of a thin silicon layer transfered by Smart Cut™ process"
Jury :
- Dimitris Tsoukalas (rapporteur), Professeur à l’Université d’Athènes
- Marie Laure David (rapporteure), Maître de conférence - Institut pPrime
- Fuccio Cristiano (examinateur), Directeur de recherche - CNRS/LAAS
- Frédéric Mazen (examinateur), Ingénieur de recherche - CEA Grenoble/LETI
- Vincent Paillard (examinateur)
- Nikolay Cherkashin (directeur de thèse)