- Présentation :
La préparation d’échantillons est l’activité indispensable qui précède l’observation en microscopie électronique. Les méthodes conventionnelles consistent à effectuer du polissage de surface pour des observations en microscopie électronique à balayage (MEB), ou à amincir les échantillons jusqu’à quelques dizaines de nanomètres d’épaisseur pour des observations en microscopie électronique en transmission (MET). Cependant, la préparation d’un échantillon peut devenir plus exotique suivant la problématique en jeu.
Le service met à disposition du laboratoire de nombreux outils, et différentes techniques de préparations, qui sont enseignées aux étudiants et aux personnes souhaitant être formées.
Qu’elle soit conventionnelle, ou plus moderne, la préparation d’échantillon nécessite de la part de l’opérateur une grande précision, du doigté et de la patience !
- Équipements :
Outils de découpe : | ||
![]() |
![]() |
![]() |
Machine à électroérosion à fil ONA AF25 (équipement à 50% dans le service mécanique) | Scies à fils diamantés ESCIL Well | Tronçonneuse BUEHLER IsoMet 4000 |
Polissage mécanique : | ||
![]() |
![]() |
![]() |
Polisseuses ESCIL 300GTL, 200GTL | Polisseuse semi-automatique ALLIED Multiprep | Polisseuse BUEHLER Phoenix 4000 |
![]() |
![]() |
![]() |
Polisseuse vibrante BUEHLER VibroMet2 | GATAN Grinder | SOUTH BAY TECHNOLOGY Tripod Polisher Model 590 |
![]() |
GATAN Dimpler Grinder Model 656 |
Microscopes optiques |
Focused Ion Beam (FIB) | |
![]() |
![]() |
![]() |
NIKON Eclipse LV100ND |
NIKON Eclipse MA200 |
FEI Helios Nanolab 600i - colonne SEM - colonne FIB - micromanipulateur Omniprobe - 5 GIS (gaz injection system) : Pt, W, C, Co et O2 - détecteurs EBSD, STEM, CBS |
Polissage électrolytique |
Enrobage à chaud | Amincisseur ionique |
![]() |
![]() |
![]() |
STRUERS TenuPol-5 | BUEHLER SimpliMet XPS1 |
GATAN PIPS Model 691 |
- Personnel
Dominique Lamirault
(AJTR ITRF)
Catherine Crestou
(TCN)
Robin Cours
(AI)