« Étude de l’impact du procédé Smart Cut™ sur la qualité cristalline des couches minces de silicium transférées »
Le jury sera composé de :
- Dimitris Tsoukalas (rapporteur), Professeur à l’Université d’Athènes
- Marie Laure David (rapporteure), Maître de conférence - Institut pPrime
- Fuccio Cristiano (examinateur), Directeur de recherche - CNRS/LAAS
- Frédéric Mazen (examinateur), Ingénieur de recherche - CEA Grenoble/LETI
- Vincent Paillard (examinateur)
- Nikolay Cherkashin (directeur de thèse)