Cette thèse, réalisée dans le cadre d’une collaboration entre le CEMES, NXP Semiconductors et le laboratoire SATIE-ENS de Cachan, a comme objectif la compréhension des mécanismes de défaillance des dispositifs MOSFET pour des applications dans l’industrie automobile.
Composition du jury
- Mauro CIAPPA, ETH, Zurich (Rapporteur)
- Josef LUTZ, TU, Cheminitz (Rapporteur)
- Marie-Laure LOCATELLI, Laboratoire LAPLACE, Toulouse (Examinatrice)
- Michael NELHIEBEL, K.A.I. - Infineon, Villach (Examinateur)
- Stéphane LEFEBVRE, SATIE-ENS, Cachan (Examinateur)
- Philippe DUPUY, NXP Semiconductors, Toulouse (Invité)
- Marc LEGROS, CEMES-CNRS, Toulouse (Directeur de Thèse)
- Mounira BERKANI, , SATIE-ENS, Cachan (Directrice de Thèse)