Jeudi 23 janvier 2025, 11h00, CEMES (café et viennoiseries offerts à 10h30)

salle de conférence + Zoom 

par Williams Lefebvre, GMP Rouen, professeur à l’université de Rouen Normandie

Afin d’améliorer les connaissances structurelles dans les champs de composition tridimensionnels révélés par la tomographie par sonde atomique, des approches de microscopie corrélative, combinant la microscopie électronique à transmission (à balayage) et la tomographie par sonde atomique, sont apparues et ont démontré leur pertinence.

Pour repousser les limites et faciliter une analyse plus complète de la matière à l’échelle nanométrique en couplant de nombreux ensembles de données bidimensionnelles ou tridimensionnelles, il est de plus en plus intéressant de combiner la microscopie électronique à transmission et la tomographie par sonde atomique dans un instrument unifié.

Pour rendre l’analyse corrélative par (S)TEM et APT plus accessible, des efforts ont été prévus et réalisés pour réunir les deux techniques dans un seul instrument [1-4]. Cette étude présente le résultat tangible d’un effort instrumental visant à intégrer la tomographie par sonde atomique dans un microscope électronique à transmission commercial [5]. L’instrument qui en résulte démontre la faisabilité de combiner les reconstructions 3D in situ des champs de composition avec l’analyse structurelle détaillée offerte par la microscopie électronique à transmission.

Cette étude montre une approche prometteuse pour faire converger ces deux importantes techniques de microscopie à l’échelle nanométrique.

[1] Kelly, T. F., et al. Microscopy and microanalysis 19, 652–664 (2013).

[2] W. Lefebvre, Workshop on Scientific Directions for Future Transmission Electron Microscopy, Forschungszentrum Jülich, Germany (2016)

[3] Atomic-Scale Analytical Tomography (eds. Gorman, B. P., Ringer, S. P. & Kelly, T. F.) (Cambridge University Press, 2022).

[4] Project Tomo: Toward Atomic-scale Analytical Tomography, Kelly, T., Dunin-Borkowski, R. & Meyer, J.. Microscopy and Microanalysis (2020).

[5] G. Da Costa et al., Bringing Atom Probe Tomography to Transmission Electron Microscopes, Nature comm. (2024) DOI: 10.1038/s41467-024-54169-2