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Plateforme Ingéniérie

La plateforme Ingénierie, forte de 6 personnes, regroupe les services d’électronique, de mécanique et d’optique des particules chargées. Elle participe ainsi au développement instrumental dans un contexte pluridisciplinaire tournant notamment autour des technologies du vide (UHV), haute tension, cryogénie, optique photonique et optique des particules chargées (électrons et ions).

Ses missions :

  • Etre un partenaire technique de la communauté scientifique et technique du CEMES.
  • Conseiller et assister les chercheurs dans l’analyse et l’expression de leurs besoins.
  • Transcrire les besoins des scientifiques en solutions techniques adaptées.
  • Réaliser et/ou modifier les éléments électroniques et mécaniques des équipements scientifiques.
  • Suivre les tâches externalisées le cas échéant.
  • Participer à la communication des résultats.

Christian Pertel, animateur

 

Caméra en cours de développement

Caméra en cours de développement

LES SERVICES

Ces deux services à disposition des groupes de recherche et plateformes technique proposent les outils suivants :

Ouvrir le tableau avec Excel

Service électronique :
Abdelouahed Lasfar, Christian Pertel (responsable), Francisco Varela (Alternant ingénieur Polytech Montpellier)

Service mécanique :

Pierre Abeilhou (responsable), Bertrand Gatti

L’optique de particules chargées (OPC) est une science qui compile sous un socle théorique commun l’ensemble des lois qui régissent le transport, la focalisation, la dispersion en masse/énergie, etc. de particules chargées pouvant être des électrons, positons, ions ou molécules. Elle permet de décrire les propriétés optiques de l’ensemble des éléments optiques individuels usuels (lentilles, filtre en énergie, secteur magnétique, …) et grâce aux multiples combinaisons de ceux-ci permets de créer un large panel d’outils de caractérisation des matériaux innovants. Depuis des années les applications dans ce domaine sont considérables : développement de microscope électronique de plus en plus performant, faisceau d’ions focalisés ayant ouvert la voie au nano-usinage mais aussi spectromètre de masse des ions secondaires (SIMS) outil incontournable pour la caractérisation de dopants dans les semiconducteurs.

Le service offre son expertise dans les questions d’OPC suivant une méthodologie décrite dans la figure ci-dessous. En fonction de la demande, le service peut concevoir un système d’optique spécifique, ou imaginer des modifications d’un système existant, puis proposer une simulation des caractéristiques optiques du nouveau système. Ces simulations seront réalisées en utilisant de logiciels commerciaux état de l’art (tel que SIMION ou EOD), mais aussi en utilisant des codes réalisés au sein du service. La prestation peut aller jusqu’à l’optimisation du système optique avant de passer la main aux collègues de la plateforme instrumentation (électronique, mécanique) si le demandeur souhaite finalement réaliser le système aux vues des performances simulées.

Enfin les membres du service accompagnent les utilisateurs dans la maintenance lourde ou régulière des systèmes d’optique originellement développées au sein du service (comme les microscopes ultrarapide FemtoTEM ou HC-IUMi par exemple), ainsi que les microscopes électroniques en transmission commerciaux lorsque le service microscopie de la plateforme caractérisation requiert une expertise spécifique.

Robin Cours, Florent Houdellier (responsable)

LES MEMBRES

LES PROJETS

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