Currently my main research focus is on operando electron microscopy characterizations on ferroelectric capacitors and phase change memory materials using MEMS-based chips. I have abundant experience on FIB-based specimen preparation for atom probe microscopy and electron microscopy.
17 avril 2025 Séminaire de Jérémie Teyssier, coordinateur du Laboratoire de Technologie Avancée, Senior scientist…
Nous utilisons des cookies pour vous garantir la meilleure expérience sur notre site web. Si vous continuez à utiliser ce site, nous supposerons que vous en êtes satisfait.OKContinuer sans accepterMentions Légales